不揮発デバイスを用いたPVTバラつきフリーLSIの構成に関する研究

研究キーワード：
不揮発ロジック、バラつき補正、再構成可能回路

研究シーズの特徴・独自性

電源を切ってもデータを記憶し続ける不揮発性デバイスを、メモリだけでなく、CPUなどの演算器やシステム全体の構成に積極的に活用する回路・システム構築方法が「不揮発性ロジック」です。本テーマでは、不揮発性デバイスに「回路構造情報」を記憶することで、製造プロセス（P）や電源電圧（V）、温度（T）などに起因する回路特性バラつきに対して頑健な回路を、少ないオーバーヘッドで実現できる回路構成を提案しています

産学連携の可能性

この成果は、今後微細化が益々進行する超微細LSIの高信頼化・高性能化に大いに寄与する技術であり、これに関連する分野で有意義な共同研究ができるものと考える。