東北半導体・エレクトロニクスデザインコンソーシアム

Tohoku Semiconductor Electronics Design Consortium

Si基板の3D微細加工とデバイスへの応用

研究キーワード:
Si基板、3D微細加工、リソグラフィ、エッチング、自己整合プロセス、原子間力顕微鏡(AFM)プローブ

研究シーズの特徴・独自性

電子ビーム(EB)リソグラフィ、Siのトレンチエッチング(RIE)、等方性プラズマエッチング、結晶異方性エッチング(ウエット)などのウエハプロセスでの一括微細加工技術を融合し、Si基板へマルチ構造のナノニードル、中空構造(マイクロ流路)などの3D微細構造を形成する手法を開発しています。

図は、通常は単純なシングル構造である原子間力顕微鏡(AFM)のSiナノ探針/カンチレバーをデュアル構造にし、2個のSiナノ探針(数μm高)をサブμmの近接ギャップで向かい合わせに形成する自己整合プロセスや、さらに液体試料をデリバリするためのノズルや、数μm厚のSiカンチレバーにトンネル状の埋込型マイクロ流路を一括形成した開発例です。

Si基板の3D微細加工とデバイスへの応用:画像1
Si基板の3D微細加工とデバイスへの応用:画像2

産学連携の可能性

山形大学米沢キャンパス共通クリーンルーム内に、EB描画装置、深堀用反応性イオンエッチング(DRIE)装置(自作開発)、プラズマエッチング装置、熱酸化炉、3元スパッタ装置などを整備し、小サイズ基板(50mm以下)を用いた”ミニマルファブ”風の微細加工が可能です。

近接デュアルAFMプローブに、マイクロ流路とノズルを形成し、サンプル表面の分子像をAFM観察しながら、狙った場所へ異分子の液体試料をデリバリする”ナノ3Dプリンティング”への応用も目指しています。

山形大学

理工学研究科 機械システム工学分野

教授

:

峯田 貴

お問い合わせ先

:

mineta-t@yz.yamagata-u.ac.jp

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